микроскопия, наноскопия, ближнепольная микроскопия, сверхразрешение, наночастицы, анализ траекторий частиц, видеообработка
Аннотация
Разработана система освещения объекта лазерным источником с подавлением когерентности для оптической микроскопии. Освещение объекта выполнено по методу темного поля. Данная система позволяет визуализировать детали (наночастицы) с размерами менее 50 нм. Это необходимо для повышения разрешения ранее предложенного метода сверхразрешения оптической микроскопии NORM (наноскопии), основанном на обработке в реальном времени видеопотока, регистрирующего броуновское движение наночастиц над поверхностью объекта. Реализован метод определения вертикальной координаты наночастиц при помощи астигматического изображения. Получены трехмерные картины распределения координат наночастиц в суспензии над наблюдаемым объектом. Разрешение по вертикали составило менее 200 нм, в плоскости объекта (по обоим латеральным координатам) – менее 100 нм.
Биографии авторов
Сергей Александрович Ассельборн, Южно-Уральский государственный университет, г. Челябинск
кандидат физико-математических наук, старший научный сотрудник, лаборатория сенсорики
Евгений Сергеевич Зацепин, Южно-Уральский государственный университет, г. Челябинск
лаборант-исследователь
Денис Сергеевич Исаков, Южно-Уральский государственный университет, г. Челябинск
научный сотрудник, лаборатория сенсорики
Александр Михайлович Герасимов, Южно-Уральский государственный университет, г. Челябинск
кандидат физико-математических наук, доцент, кафедра «Оптоинформатика», старший научный сотрудник лаборатории сенсорики
Денис Григорьевич Пихуля, Южно-Уральский государственный университет, г. Челябинск
кандидат физико-математических наук, доцент, кафедра «Оптоинформатика», старший научный сотрудник лаборатории сенсорики
Юрий Владимирович Микляев, Южно-Уральский государственный университет, г. Челябинск
доктор физико-математических наук, профессор, кафедра «Физика наноразмерных систем», ведущий научный сотрудник, лаборатория сенсорики
