Система освещения объекта для микроскопии с субдифракционным разрешением

Сергей Александрович Ассельборн, Евгений Сергеевич Зацепин, Денис Сергеевич Исаков, Александр Михайлович Герасимов, Денис Григорьевич Пихуля, Юрий Владимирович Микляев

Аннотация


Разработана система освещения объекта лазерным источником с подавлением когерентности для оптической микроскопии. Освещение объекта выполнено по методу темного поля. Данная система позволяет визуализировать детали (наночастицы) с размерами менее 50 нм. Это необходимо для повышения разрешения ранее предложенного метода сверхразрешения оптической микроскопии NORM (наноскопии), основанном на обработке в реальном времени видеопотока, регистрирующего броуновское движение наночастиц над поверхностью объекта. Реализован метод определения вертикальной координаты наночастиц при помощи астигматического изображения. Получены трехмерные картины распределения координат наночастиц в суспензии над наблюдаемым объектом. Разрешение по вертикали составило менее 200 нм, в плоскости объекта (по обоим латеральным координатам) – менее 100 нм.

Ключевые слова


микроскопия, наноскопия; ближнепольная микроскопия; сверхразрешение; наночастицы; анализ траекторий частиц; видеообработка

Полный текст:

PDF


DOI: http://dx.doi.org/10.14529/mmph220308

Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.