СВЧ-способ обнаружения и оценки дефекта типа отслоение в защитных покрытиях вооружения, военной и специальной техники и устройство его реализации
DOI:
https://doi.org/10.14529/ctcr160113Ключевые слова:
вооружение, военная и специальная техника, радиопоглощающее покрытие, поверхностная электромагнитная волна, коэффициент ослабления поля, дефект, отслоение, авиационный комплексАннотация
При проектировании авиационных комплексов для получения заданного уровня эффективной поверхности рассеяния радиопоглощающих материалов и покрытий имеют строго заданные параметры: переменную по профилю толщину, сложную структуру с меняющимися значениями комплексных диэлектрической и магнитной проницаемостей.
Реализовать в полной мере свойства современных покрытий возможно только при строгом соблюдении технологических режимов и допусков при их нанесении. Такие же жесткие ограничения накладываются и на допуск по значениям диэлектрической и магнитной проницаемостей радиопоглощающих покрытий.
Задача обеспечения надежной адгезии радиопоглощающих покрытий к обшивкам самолета, выполненным из различных материалов и подвергнутых разнообразной поверхностной обработке, достаточно сложна. При недостаточной адгезии высокие внутренние напряжения приводят к отслоению, а при высокой адгезии – к растрескиванию радиопоглощающих покрытий.
В ходе эксплуатации образцов авиационных комплексов, особенно в сложных условиях и при предельных механических и температурных нагрузках, неизбежны ситуации, когда в радиопоглощающих покрытиях будут возникать различные дефекты в виде отслоений, растрескиваний, сколов, царапин и т. п., что приведет к увеличению эффективной поверхности рассеяния и снижению боевых возможностей.
Разработан СВЧ-способ обнаружения неоднородностей диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на металле и оценки их относительной величины, заключающийся в создании над поверхностью диэлектрического или магнитодиэлектрического покрытия поля поверхностной медленной волны СВЧ-диапазона, измерении напряженности поля по всей поверхности материала в нормальной относительно направления распространения волны плоскости, определении по величине затухания поля электрофизических параметров, а по степени отклонения коэффициента затухания поля от среднего значения – границы отслоения покрытия и величину его отслоения от подложки.
Библиографические ссылки
Актуальные задачи стелс-технологии / А.Н. Лагарьков, А.И. Федоренко, В.Н. Кисель и др.; Институт теоретической и прикладной электродинамики Российской академии наук. – http://www/itae.ru/science/topics/№4%20(стелс).pdf (дата обращения: 06.08.2015).
Лагарьков, А.Н. Фундаментальные и прикладные проблемы стелс-технологий / А.Н. Лагарьков, М.А. Погосян // Вестник Российской академии наук. – 2003. – Т. 73, № 9. – С. 779–787.
Казьмин, А.И. Математическая модель отслоения покрытия от подложки / А.И. Казьмин, П.А. Федюнин, А.Ю. Попов // Информатика: проблемы, методология, технологии: материалы XIV международной конференции (6–8 февраля 2014). – Воронеж: ВГУ, 2014. – Т. 1. – С. 325–328.
