Дифракционные методы изучения планарных дефектов в плотнупакованных мартенситных структурах с орторомбическими и моноклинными искажениями

Abstract

Разработана теория дифракции излучения на плотноупакованных структурах с орторомбическими и моноклинными искажениями, содержащих дефекты упаковки. На примере мартенситных структур, образующихся из упорядоченной ОЦК-фазы, показано существенное влияние моноклинных искажений и характера распределения дефектов упаковки в кристалле на дифракционную картину.