Structure and Electronic Properties of Fluorographene and Fluorographite Crystals

Максим Евгеньевич Беленков
Челябинский государственный университет, г. Челябинск

Владимир Михайлович Чернов
Челябинский государственный университет, г. Челябинск

Анатолий Владимирович Бутаков
Челябинский государственный университет, г. Челябинск


Аннотация


Проведено исследование структуры и электронных свойств двумерных (2D) (фторографенов) и трехмерных (3D) (фторографитов) кристаллов, составленных из функционализированных фтором монослоев полиморфов графена L6, L3-12, L4-6-12, L5-7 и L4-8 с различным типом присоединения атомов фтора. Установлено, что в исследуемых 3D-кристаллах изменяются в широких пределах межслоевые расстояния: 4,73 ÷ 5,96 Å и объемные плотности: 2,43 ÷ 3,98 г/cм3. Значение ширины запрещенной зоны во фторографитах в среднем на 0,4 эВ меньше ширины запрещенной зоны в соответствующих фторографенах. Во фторографитах обнаружена закономерность: с увеличением межслоевого расстояния энергия межслоевого взаимодействия уменьшается, а объемная плотность увеличивается. Обнаружено, что ширина запрещенной зоны как во фторографенах, так и фторографитах уменьшается при увеличении энергии сублимации. Установлена связь между степенью разброса длин С-С-связей и наличием или отсутствием расталкивающих flagpole-сил между присоединяемыми атомами фтора. Наблюдается, что при функционализации значения средней длины C-C связи увеличиваются для монослоев L6, L3-12, L4-6-12, L5-7 и L4-8. Значения средних длин C-C связей при формировании фторографита из фторографена практически не изменяются. Разброс длин C-C связей варьируется от 0,2 % в F-L6T1 до 10,7 % в F-L4-6-12T1 для фторографитов.

Ключевые слова


функционализация; фторографит; фторографен; полиморфизм кристаллов; тип присоединения; ширина запрещенной зоны

Полный текст:

PDF


DOI: http://dx.doi.org/10.14529/mmph250105

Ссылки

  • На текущий момент ссылки отсутствуют.